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薄膜的晶界和堆垛层错_外观缺陷

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公司名称: 外观瑕疵
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吹膜时,可能有膜卷漏电晕处理;膜厚过大或不均匀导致电晕效应不足(外观检查);吹膜是由于加入过多的增滑剂或高爽增滑颗粒比例过大造成的,大大降低了电晕效应。当12~15umPET膜两面电晕效应几乎相同时,容易造成印刷膜卷背粘失效。印刷胶片电晕要求:BOPP,PE38达因,PET50达因,NY52达因。NY膜吸水后,对电晕效应影响不大。判断NY膜是否吸水,看是否有收缩上升现象。切一片放在烤箱里烤几个小时,感觉硬不硬。如果有上升上升现象,NY膜吸水太多。

薄膜的晶界和堆垛层错_外观缺陷公司来告诉大家

1.晶界

与块体材料相似,薄膜中的晶粒由于相对取向不同,在晶粒之间存在接触界面,通常称为晶界,因此晶界是分隔两种结构相同但取向不同的晶粒的表面缺陷。

2.层状断层

所谓的堆垛层错是薄膜生长过程中出现的晶格缺陷,因为晶面的正常堆垛顺序被破坏了。中心立方晶体中{表面探测}面的两种基本堆垛层错可以表示为

.美国广播公司.

.农行ACBC农行.

前者相当于从正常的准堆垛层序中拉出一层晶面,所以称为拉出堆垛层错;后生长相当于以正常的堆垛顺序多加了一层晶面,所以称为插层堆垛层错。堆垛层错破坏了晶体的完整性,导致晶体能量增加。与单位面积堆垛层错相关的能量称为堆垛层错能。堆垛层错只破坏原子的次邻接关系,不破坏原子的最近邻关系,即左堆垛层错与正常堆垛层序的区别只能从两个连续原子的关系中找到;如果只取出相邻的两层原子,就不存在“误差”。所以堆垛层错能比最近的原子被破坏的一般晶界能小得多。

膜厚是一个重要的参数。一般来说,厚度有三个概念,即几何厚度、光学厚度和质量厚度。几何厚度是指膜层的物理厚度。

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